Maintaining NIST-Traceability for MEMS Sensors via In-Field Electrical Recalibration-Reference-Cited by-同舟云学术

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Maintaining NIST-Traceability for MEMS Sensors via In-Field Electrical Recalibration

Published:2021-04-25 Issue: Volume: Page:
ISSN:
Container-title:2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS)
language:
Short-container-title:

Author:

Bassi Ishaan,Ozev Sule,Chang Doohwang

Funder

National Science Foundation

Publisher

IEEE

Link

http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9440994/9440995/09441000.pdf?arnumber=9441000

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1. A Low Cost Physical Stimulus Emulator for Motion and Pressure Sensors;2023 IEEE 66th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS);2023-08-06

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