Author:
Asseng S.,Ewert F.,Martre P.,Rötter R. P.,Lobell D. B.,Cammarano D.,Kimball B. A.,Ottman M. J.,Wall G. W.,White J. W.,Reynolds M. P.,Alderman P. D.,Prasad P. V. V.,Aggarwal P. K.,Anothai J.,Basso B.,Biernath C.,Challinor A. J.,De Sanctis G.,Doltra J.,Fereres E.,Garcia-Vila M.,Gayler S.,Hoogenboom G.,Hunt L. A.,Izaurralde R. C.,Jabloun M.,Jones C. D.,Kersebaum K. C.,Koehler A-K.,Müller C.,Naresh Kumar S.,Nendel C.,O’Leary G.,Olesen J. E.,Palosuo T.,Priesack E.,Eyshi Rezaei E.,Ruane A. C.,Semenov M. A.,Shcherbak I.,Stöckle C.,Stratonovitch P.,Streck T.,Supit I.,Tao F.,Thorburn P. J.,Waha K.,Wang E.,Wallach D.,Wolf J.,Zhao Z.,Zhu Y.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC