Author:
Mack S. C.,Witt H.,Piro R. M.,Gu L.,Zuyderduyn S.,Stütz A. M.,Wang X.,Gallo M.,Garzia L.,Zayne K.,Zhang X.,Ramaswamy V.,Jäger N.,Jones D. T. W.,Sill M.,Pugh T. J.,Ryzhova M.,Wani K. M.,Shih D. J. H.,Head R.,Remke M.,Bailey S. D.,Zichner T.,Faria C. C.,Barszczyk M.,Stark S.,Seker-Cin H.,Hutter S.,Johann P.,Bender S.,Hovestadt V.,Tzaridis T.,Dubuc A. M.,Northcott P. A.,Peacock J.,Bertrand K. C.,Agnihotri S.,Cavalli F. M. G.,Clarke I.,Nethery-Brokx K.,Creasy C. L.,Verma S. K.,Koster J.,Wu X.,Yao Y.,Milde T.,Sin-Chan P.,Zuccaro J.,Lau L.,Pereira S.,Castelo-Branco P.,Hirst M.,Marra M. A.,Roberts S. S.,Fults D.,Massimi L.,Cho Y. J.,Van Meter T.,Grajkowska W.,Lach B.,Kulozik A. E.,von Deimling A.,Witt O.,Scherer S. W.,Fan X.,Muraszko K. M.,Kool M.,Pomeroy S. L.,Gupta N.,Phillips J.,Huang A.,Tabori U.,Hawkins C.,Malkin D.,Kongkham P. N.,Weiss W. A.,Jabado N.,Rutka J. T.,Bouffet E.,Korbel J. O.,Lupien M.,Aldape K. D.,Bader G. D.,Eils R.,Lichter P.,Dirks P. B.,Pfister S. M.,Korshunov A.,Taylor M. D.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC