Depth Profiling of the Chemical Composition of Free-Standing Carbon Dots Using X-ray Photoelectron Spectroscopy

Author:

Papagiannouli Irene1ORCID,Patanen Minna2ORCID,Blanchet Valérie1ORCID,Bozek John D.3,de Anda Villa Manuel4,Huttula Marko2,Kokkonen Esko2ORCID,Lamour Emily4,Mevel Eric1,Pelimanni Eetu2,Scalabre Antoine5,Trassinelli Martino4,Bassani Dario M.5ORCID,Lévy Anna4,Gaudin Jérôme1

Affiliation:

1. CELIA, University of Bordeaux, CEA, CNRS UMR 5107, 351 Cours de la Libération, F-33400 Talence, France

2. Nano and Molecular Systems Research Unit, Faculty of Science, University of Oulu, P.O. Box 3000, FI-90014 Oulu, Finland

3. Synchrotron SOLEIL, L’Orme des Merisiers, Saint-Aubin, BP 48, Gif-sur-Yvette Cedex, France

4. Sorbonne Universités, CNRS, UMR 7588, Institut des Nanosciences de Paris, 75252 Paris Cedex 05, France

5. Institut des Sciences Moléculaires, University of Bordeaux, CNRS UMR 5255, 351 Cours de la Libération, 33400 Talence, France

Funder

Agence Nationale de la Recherche

Suomen Akatemia

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

Surfaces, Coatings and Films,Physical and Theoretical Chemistry,General Energy,Electronic, Optical and Magnetic Materials

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