Effect of inelastic ion collisions on low-gain avalanche detectors explained by an ASi-Si -defect mode

Author:

Lauer KevinORCID,Reiß Stephanie,Flötotto AaronORCID,Peh Katharina,Bratek Dominik,Müller Robin,Schulze Dirk,Beenken Wichard,Hiller Erik,Ortlepp Thomas,Krischok Stefan

Publisher

Elsevier BV

Reference38 articles.

1. Defects and Impurities in Silicon Materials: an Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering,2015

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3. Acceptor removal - Displacement damage effects involving the shallow acceptor doping of p-type silicon devices;Moll,2020

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