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Noise as a diagnostic and prediction tool in reliability physics

  • Published:1995-03 Issue:3 Volume:35 Page:455-477
  • ISSN:0026-2714
  • Container-title:Microelectronics Reliability
  • language:en
  • Short-container-title:Microelectronics Reliability

Author:

Jevtić M.M.

Publisher

Elsevier BV

Reference114 articles.

1. Reliability physics as a new discipline;Gao;Micrelectron. Reliab.,1988

2. Noise;van der Ziel,1956

3. Fl'uktuacii toka v poluprovodnike (dielektrike) v uslovijah udarnoi ionizacii i lavinnogo proboja;Tager;FTT,1964

4. Multiplication noise in uniform avalanche diodes;McIntyre;IEEE Trans. Electr. Dev.,1966

5. Low-frequency multiplication noise in reference diodes for small multiplication factors;Jevtić;Electron. Lett.,1977

Cited by 74 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

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